DIN EN 60669-2-1/A11-1998 家用和类似用途固定电器装置的开关.第2部分:特殊要求.第1节:电子开关.更改A11
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【英文标准名称】:Switchesforhouseholdandsimilarfixedelectricalinstallations-Part2:Particularrequirements;Section1:Electronicswitches;AmendmentA11;GermanversionEN60669-2-1:1996/A11:1997
【原文标准名称】:家用和类似用途固定电器装置的开关.第2部分:特殊要求.第1节:电子开关.更改A11
【标准号】:DINEN60669-2-1/A11-1998
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1998-02
【实施或试行日期】:1998-02-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K31
【国际标准分类号】:29_120_40
【页数】:5P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:Measuringrelaysandprotectionequipment-Part22-3:Electricaldisturbancetests-Radiatedelectromagneticfieldimmunity
【原文标准名称】:测量继电器和保护设备.第22-3部分:电气骚扰试验.辐射电磁场抗扰性
【标准号】:IEC60255-22-3-2007
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2007-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC95
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:验收(鉴定);验收规范;定义;电气工程;电气保护设备;电气测试;电磁场;检验;干扰抑制;测量继电器;保护装置;保护继电器;合格试验;继电器;规范(验收);测试
【英文主题词】:Acceptance(approval);Acceptancespecification;Checkingequipment;Definitions;Electricalengineering;Electricalprotectionequipment;Electricaltesting;Electromagneticfields;Inspection;Interferencerejections;Measuringrelays;Protectiondevices;Protectiverelays;Qualificationtests;Relays;Specification(approval);Testset-ups;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60255isbasedonIEC61000-4-3,referringtothatpublicationwhereapplicable,andspecifiesthegeneralrequirementsforradiatedelectromagneticfieldimmunitytestsformeasuringrelaysandprotectionequipmentforpowersystemprotection,includingthecontrol,monitoringandprocessinterfaceequipmentusedwiththosesystems.
【中国标准分类号】:K33
【国际标准分类号】:29_120_70
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
标准名称: | 光学晶体光学均匀性 测量方法 |
英文名称: | Measuring method for optical homogeneity of optical crystal |
中标分类: |
仪器、仪表 >>
仪器、仪表综合 >>
仪器、仪表用材料和元件 |
ICS分类: |
|
替代情况: | 原标准号ZB N05001.7-1986 |
发布部门: | 仪表功能材料标委会 |
发布日期: | 1999-08-06 |
实施日期: | 2000-01-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
提出单位: | 仪表功能材料标准化技术委员会 |
归口单位: | 仪表功能材料标准化技术委员会 |
起草单位: | 北京玻璃研究所 |
起草人: | 杨学志 |
出版社: | 机械工业出版社 |
出版日期: | 2005-06-18 |
页数: | 6 页 |
批文号: | 国机管[1999]419 |
适用范围
本标准适用于直径不大于2000.的光学晶体光学均匀性的mit ,侧盆折射率微差的精度为:△7=±1×10-⒍
前言
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所属分类: 仪器 仪表 仪器 仪表综合 仪器 仪表用材料和元件